基于电信智能卡芯片应用场景的闪存耐久力测试方法

摘要：

半导体制造工艺不断发展和特征尺寸缩小给闪存可靠性带来挑战.闪存可靠性测试与评价越来越重要.闪存可靠性测试是智能卡芯片可靠性测试中的关键测试.本文介绍了电信智能卡芯片在应用场景下的闪存耐久力测试方法.

关键词：闪存、耐久力、应用场景、可靠性测试

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在线出版日期：2018-04-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：48-51,93