期刊专题

10.3969/j.issn.1681-5289.2017.10.004

非同步ADC采样的校正方法研究

引用
相对于同步采样,非同步采样能够有效的降低电路板成本.本文对非同步采样的两种误差校正方法——插值采样和Ⅴ型采样进行了介绍.阐述了插值采样与Ⅴ型采样的误差产生机理.理论分析与仿真验证结果表明,非同步采样经纠正后的误差能够符合标准要求,适用在电力系统测控采样.

非同步采样、插值采样、Ⅴ型采样、误差分析

26

TN9;TN7

2018-01-02(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

17-19

暂无封面信息
查看本期封面目录

中国集成电路

1681-5289

11-5209/TN

26

2017,26(10)

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn