形式化验证在芯片研发中的应用

摘要：

在高性能处理器芯片的研发中,风险主要来自芯片的正确性代价成本.如何在流片前及时、彻底地发现设计中潜藏的逻辑错误,保证芯片的可用性、高效性,始终是业内着力解决的问题.本文介绍了当前芯片验证的现状和分析形式验证的必要性,以及如何将形式验证恰当的应用到芯片研发当中.最后对形式验证工具引入后进行了多方位的评估,较好的印证了形式验证的特点在高性能处理器芯片验证过程中能够得到充分的发挥.

关键词：形式验证、UNR、FPV、MFV、ABV

所属期刊栏目：26

分类号：TP3;TP2

在线出版日期：2017-12-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：38-42