测量电路中的共地干扰问题

摘要：

结合产品开发中的实际案例,分析了测试测量电路中的共地干扰的常见现象,产生原因,以及在电路设计和PCB布线中如何避免和解决此类问题的一些思路.为此类问题的研究,尤其是实际的产品开发,提供一些借鉴.

关键词：共地干扰

所属期刊栏目：26

分类号：H35;TN9

在线出版日期：2017-04-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：76-78