期刊专题

10.3969/j.issn.1681-5289.2016.05.008

亚分辨率辅助图形对28纳米密集线条光刻成像的影响

引用
亚分辨率辅助图形(Sub-Resolution-Assist-Feature,SRAF)是光刻工艺图形增强技术(Resolution Enhancement Technology,RET)中广泛应用的一种方法.本文设计实验在密集图形(线宽/距离比约1∶1)外侧放置不同的SRAF,研究了SRAF对于密集图形内部线条成像的影响,通过实验数据总结和理论分析,提出了最佳的SRAF放置位置.此外,本文还设计了一种与设计图形线宽一样大小的SRAF,并比较了其与传统尺寸SRAF对密集图形内侧线条成像的影响.

亚分辨率辅助图形、SRAF、光学邻近效应修正、OPC、分辨率

25

TN3;TP3

2016-07-25(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共6页

53-58

暂无封面信息
查看本期封面目录

中国集成电路

1681-5289

11-5209/TN

25

2016,25(5)

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn