SRAM型FPGA的SEU容错技术研究

摘要：

在空间辐射环境下,SRAM型FPGA比ASIC器件更容易产生单粒子翻转(SEU)效应,造成器件逻辑错误和系统故障,因此对航天应用中的SRAM型FPGA必须采取相应的抗单粒子翻转设计措施,提高FPGA空间应用的可靠性.分析了SEU产生原因及国内外针对SEU效应提出的FPGA加固设计方法,重点分析介绍了三模冗余技术、刷新回读技术和局部动态可重构技术等加固技术,总结比较了各种技术的优缺点.

关键词：SRAM型FPGA、单粒子翻转、可靠性

所属期刊栏目：24

分类号：TN432(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2015-11-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：31-36