10.3969/j.issn.1681-5289.2015.06.011
一种新的解析提取RF SOI MOS变容管衬底模型参数的方法
本文提出一种适用于RF SOI工艺MOS变容管行为表征的新模型.提出的模型考虑了SOI衬底的物理特性,并给出了解析提取衬底寄生网络模型参数的方法.采用提出的模型,精确预见了RF SOI MOS变容管器件特性,测量和模型仿真结果,在20 GHz频率范围内得到很好的吻合.
RF SOI、MOS变容管、衬底模型、解析提取
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TN7;TN4
2015-07-06(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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