期刊专题

10.3969/j.issn.1681-5289.2015.04.018

使用同步检测进行精密低电平测量

引用
同步检测是一项实用的技术,可提取隐藏于噪底以下的低电平信号,在仪器仪表领域有很多应用.比如:测量非常小的电阻,测量在强背景光下光的吸收或反射,或者在高噪声电平的情况下进行应变测量. 当频率接近直流时,许多电气和物理系统都会有更高的噪声.例如,运算放大器有1/f噪声,而露天光学测量系统会受日光、白炽灯、荧光灯等光源造成的环境光照条件变化所产生的噪声影响.如果可以使测量远离这些低频噪声源,则可以获得更高的信噪比并检测出弱得多的信号.例如,如果希望测量表面反射的光量,则在若干kHz下调制光源将能够测量在较低频率噪声中嵌入的信号.图1展示了如何调制信号将低于噪底的信号恢复为可测量的信号.

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2015-06-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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中国集成电路

1681-5289

11-5209/TN

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2015,24(4)

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