10.3969/j.issn.1681-5289.2015.04.012
符合安全标准的三重投票触发器实现方法
1 引言
近年来,由于技术变化以及设计创新,SoC实现和结构流程历经了多次演进.然而,由于芯片缺陷及其他工艺变化而导致的设计失败依然困扰着所加工器件的健壮性和功能,导致产量过低、成本过高.汽车和军用设备受到的影响最大,原因是验收PVT(工艺电压温度)的范围和器件规格要严格得多.即使采用先进的DFT(测试用设计)架构,制造商也只能识别现有的故障.老化测试等压力测试提供一个长期压力模拟环境,但由于相关的测试成本较高,这些测试也仅持续几年的时间.
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2015-06-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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