RF芯片测试技术研究

摘要：

本论文主要介绍了当前RF芯片及其测试挑战,讲述了应用于无线通信系统和高数据速率交换装置芯片的测试环境开发,研究了RF芯片测试关键技术,包括测试软件开发技术及测试硬件设计技术.然后介绍了如何利用半导体自动测试设备(ATE)对RF芯片关键参数进行测试,实现RF芯片自动测试方法的创新.通过本论文的研究,可以为RF芯片提供相应的测试解决方案.

关键词：RF芯片、测试技术、半导体自动测试设备、增益、相位噪声

所属期刊栏目：24

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2015-06-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：41-46,55