BurnIn(老化)插座接触电阻的在板测试

摘要：

在BurnIn的生产过程中,会出现测试不稳定,低良品率等问题.对于这样的问题,工程师会通过调试程序来确定,是芯片本身出现的偏差,还是测试程序不够稳定,或者是BurnIn板子由于长时间使用,导致插座接触不良.对于插座能否正常接触,可以通过直接测量芯片引脚上的信号来判断,但对于好多芯片在放入插座之后,根本没有办法测试引脚上的信号.文章引入在BurnIn板子上测量插座接触电阻的方法,介绍了在BurnIn板子上测量接触电阻的必要性和实现方法.通过在BurnIn板子上,增加插座接触电阻的测试功能,对BurnIn程序调试,BurnIn生产过程中出现问题的分析,以及生产的BurnIn板子维护都有很大的帮助.

关键词：BurnIn、老化、接触电阻、在板

所属期刊栏目：23

分类号：TP407

在线出版日期：2015-01-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：82-84