利用新一代虚拟探测功能实现内存的信号去嵌测试

摘要：

1 内存测试中的难点内存广泛应用于各类电子产品中,内存测试也是产品测试中的热点和难点.内存测试中最为关键的测试项目为DQ/DQS/CLK之间的时序关系.JEDEC规范规定:测量这几个信号之间的时序时,测试点需要选择在靠近内存的最末端.而当前内存芯片大部分是BGA封装,有的甚至是正反贴的,这样,有时候就很难在内存芯片的最末端找到测试点进行测试.

机标关键词：虚拟、探测、功能实现、内存测试、信号、内存芯片、测试点、最末、时序关系、规范规定、电子产品、产品测试、测试项目、应用、选择、封装、测量

所属期刊栏目：22

分类号：TP3;F59

在线出版日期：2013-12-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：87-90