爱德万测试发布最新高速存储器测试系统T5511

摘要：

近日，爱德万测试发布了下一代高速DRAM测试系统T5511。T5511是爱德万测试的最新产品，是迄今为止业界最高测试速度（8Gbps）的存储器测试系统，可支持高速的GDDR5一SDRAM芯片测试，并具有扩展功能。因为T5511所有的测试管脚都可支持8Gbps的速度，所以在高速运行的时候，可以保证最大同测效率而不受任何影响。

关键词：测试系统、高速存储器、SDRAM、测试速度、芯片测试、扩展功能、高速运行、管脚

分类号：TP274(自动化技术及设备)

在线出版日期：2012-09-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共1页

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