华虹NEC携手Advantest成功开发RFID芯片多同测解决方案

摘要：

上海华虹NEC电子有限公司与爱德万测试（Advantest）近日共同宣布，已成功合作开发ISO14443协议标准的RFID芯片晶圆级大规模多同测解决方案，并正式进入量产阶段。结合华虹NEC在智能卡和安全类芯片领域先进的生产工艺和测试开发能力，华虹NEC与Advantest共同开发出的测试方案，能迅速准确地进行RFID反馈识别，其量产测试良率亦得到大客户认可。

关键词：上海华虹NEC电子有限公司、Advantest、RFID芯片、合作开发、ISO14443、测试方案、协议标准、开发能力

分类号：TN492(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2012-09-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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