使用Multi-Sector技术提高混合信号芯片的并行测试效率

摘要：

@@ 1介绍
测试系统的设计面临着越来越多的挑战.工厂产量的需求多种多样,芯片的测试要求也越来越复杂,如今测试工程师需要的是简单易学并且使用效率高的测试机.根据测试的产品不同,测试生产线成本的管理和策略也不一样.有大批量产品的工厂通常是通过最大化测试位数量来提高效率.然而,批量小、产品种类多的工厂发现提高测试位数量未必最好.而且,一些工厂可能两种情况都存在.从技术角度来看,测试系统的硬件资源必须足够强大、足够多,才能满足需要高并行测试效率(PTE)的目标芯片类型的多测试位测试要求.因为测试生产线的策略不同,测试系统需要具备足够的可扩展性,来支持少测试位和多测试位的配置要求,从而优化每种情况的测试成本.从人力方面来看,有竞争力的测试机需要提供简单但强大的编程环境,具有全面的软件工具和功能.

机标关键词：技术、混合信号、芯片类型、测试系统、工厂、测试要求、生产线、批量产品、测试机、硬件资源、提高效率、使用效率、软件工具、满足需要、可扩展性、测试成本、产品种类、策略、测试效率、编程环境

所属期刊栏目：20

分类号：TN9;TN4

在线出版日期：2011-09-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：76-79