高效率测试MPW晶圆上的同类型芯片的方式

摘要：

本文研究了如何运用优化测试程序的方式提高测试效率.列举了正常测试程序流程的不足,阐明了使用正常测试程序流程和改良后的测试程序流程的对比,采用新的测试方法,优化测试效率,进而降低了测试成本.

关键词：MPW测试、IC测试、解决、改良

所属期刊栏目：20

分类号：TP3;TP2

在线出版日期：2012-02-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：61-64