SOC芯片的高速模拟IP测试方法学

摘要：

很多SoC芯片里会使用SATA物理层,PCIE物理层以及DDR2/DDR3物理层等高速模拟IP.这些高速模拟IP需要被自动测试设备完整的测试.自动测试设备的高速测试选项就是用来测试高速IP,但随之而来的是测试成本的增加.智原科技利用内建自测试方法来取代费钱的自动测试设备的高速测试选项.内建自测试提供了最具成本效率的方法.高速模拟IP内建自测试的故障覆盖率很高,所以我们不再需要自动测试设备的高速测试选项及其所带来的高成本.

关键词：物理层、模拟IP、自动测试设备、内建自测试、故障覆盖率

所属期刊栏目：19

分类号：TN9;T-6

在线出版日期：2011-03-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：68-71