非接触式IC卡硬件驱动层的功能测试方法

摘要：

非接触式IC卡的应用日趋广泛,对嵌入式软件功能测试方法有效性与实用性提出了新的挑战.论文探讨了非接触式IC卡硬件驱动层的功能测试方法,包括在FPGA平台上进行在线测试以及样卡的回归测试方法.该文以嵌入式软件测试方法理论为基础,确定在进行硬件驱动层测试时可使用的功能测试方法,并依此设计测试用例;然后,确定样卡的回归测试方法;最后,根据测试环境以及实际项目情况,选择一种合适的测试架构.本文所提供的功能测试方法,可以有效地被利用在非接触式IC卡硬件驱动层的功能测试中.

关键词：FPGA、硬件驱动层、嵌入式软件测试、样卡、回归测试

所属期刊栏目：19

分类号：TP3;U4

在线出版日期：2011-01-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：72-76,33