最新SOC测试的发展趋势

摘要：

随着SOC芯片结构的复杂化,功能模块的多样化,SOC芯片的测试也面对诸多挑战,诸如测试资源和成本的兼顾.本文简单描述了现今SOC芯片的发展和趋势,以及相对应ATE测试系统的应对.

关键词：SOC、芯片测试

所属期刊栏目：18

分类号：TN9;T-6

在线出版日期：2009-06-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：62-64