基于JTAG的MBIST设计实现

摘要：

边界扫描(BSD,有时也称为JTAG)和存储器内建自测试(MBIST)是两种常用的集成电路可测试设计技术,然而如何有效处理MBIST产生的众多管脚是DFT工程师必须考虑的问题.本文介绍JTAG和MBIST基本原理和设计方法,在此基础上提出了用JTAG控制MBIST的实现方法,解决了由MBIST引起的管脚复用问题.

关键词：DFT、JTAG、MBIST

所属期刊栏目：18

分类号：TP3;TN7

在线出版日期：2009-06-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：19-22