T2000 LSMF/800MDM/PMU32/AAWGD消费类芯片测试介绍

摘要：

针对数字消费产品用SoC芯片的测试,爱德万测试在T2000系列基础上新开发了LSMF、800MDM、PMU32及AAWGD的测试作为测试解决方案.本文将介绍消费类芯片测试上的新课题及基于各新开发模块的解决方案,以及以模块灵活构建的T2000测试系统.

机标关键词：消费类、芯片测试、解决方案、消费产品、模块、测试系统、SoC芯片、数字、课题、基础、构建

所属期刊栏目：17

分类号：TP3;F71

在线出版日期：2009-06-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：69-73