一款USBkey用MCU电路早期失效问题初探

摘要：

@@ 1 问题的提出我公司生产的USBkey产品所使用的MCU电路,自2007年9月初USBkey产品开始量产化后,我们对其部分产品做了电老化试验,发现该款电路早期失效问题达不到我们要求,上电以后一段时间内失效率为千分之一点五左右.

机标关键词：电路、产品、电老化试验、失效问题、失效率、量产化、生产

所属期刊栏目：17

分类号：TN4(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2008-07-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：65-67