如何有效地在ATE上提高DDR存储器接口测试覆盖率

摘要：

双倍数据速率(DDR,Double Data Rate)DRAM由于其速度快、容量大,而且价格便宜,因此在各种需求大量数据缓存的场合得到了广泛使用.目前芯片上内嵌的DDR DRAM接口已经成为标准接口,这就需要对其本身进行测试.由于每个芯片速度特性的不同,使得DDR DRAM接口时间特性也不一样,用相同的测试程序覆盖速度不同的芯片,会造成测试覆盖率的不同.本文在DQS上升沿转换点的搜索定位基础上,通过对DQS、DQ时间采样点赋值的方法,有效地解决了因芯片速度特性不同而引起的测试覆盖率问题.该方法经过批量生产的验证,可以提高约30%的测试良率.

关键词：DDR、采样点(输出数据波形时间采样点)、搜索定位

所属期刊栏目：16

分类号：TN4(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2008-04-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：59-62,65