测试接口原理与电源芯片应用案例

摘要：

基于对IC测试接口原理和系统结构的阐释,具体针对型号为SL431L的电源芯片,提出改进测试电路的方法,电压测试值的波动范围小于3mV.

关键词：测试系统结构、测试接口、芯片测试

所属期刊栏目：16

分类号：TN4(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2008-04-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：72-74,92