面向生产的测试调试新理念:虚拟测试系统

摘要：

@@ 当前,LSI的发展越来越趋向于高集成度和高复杂度.LSI工艺向微观发展的同时,LSI本身也向多功能性发展.中国面向生产的半导体测试理念不过3-4年的历史,面对越来越复杂的测试需求,测试程序开发人员显得力不从心.更加困扰开发人员的是,他们必须面对缩短测试程序调试时间以降低测试成本的压力.

机标关键词：面向生产、测试程序、程序调试、测试理念、开发人员、功能性发展、微观发展、高集成度、测试需求、测试成本、复杂度、半导体、中国、压力、缩短、趋向、历史、困扰、工艺

所属期刊栏目：15

分类号：TN4(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2008-04-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：58-60