为不断降低测试成本而创新——访科利登公司中国区总经理陈绪先生

摘要：

@@ 在IC China2006即将召开之际,记者访问了科利登(Credence)公司中国区总经理陈绪先生.记者:您对近几年中国半导体产业的发展和未来走势有何看法?未来几年有哪些主要的挑战和机遇?

机标关键词：测试成本、创新、中国、未来走势、总经理、半导体、机遇、产业

所属期刊栏目：15

分类号：TP3;TP2

在线出版日期：2008-04-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：26-27