应用于FPGA的边界扫描设计

摘要：

针对在FPGA芯片中的应用特点,设计了一种边界扫描电路,应用于自行设计的FPGA新结构之中.该电路侧重于电路板级测试功能的实现,兼顾芯片功能的测试;同时,加入了器件编程功能.

关键词：边界扫描、现场可编程门阵列、可测试性设计、器件编程

所属期刊栏目：15

分类号：TN4(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2008-04-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：46-48,17