用"阈值电流"评估FLASH存储器件可靠性

摘要：

本文针对小功率、低功耗的FLASH存储器件"小阈值电压窗口"的特点,提出了用"阈值电流"作为读取位线的参考电流.研究了"大阈值电压窗口"的ETOXTM FLASH和"小阈值电压窗口"的SONOS FLASH存储器件读取电流和阈值电流的退化,论证了用阈值电流对各种阈值电压窗口的FLASH器件读取性能可靠性进行评估的可行性.

机标关键词：阈值电流、评估、存储器件、阈值电压、窗口、性能可靠性、参考电流、小功率、低功耗、退化、论证

所属期刊栏目：15

分类号：TN9;TN8

资助基金：科技部科研项目TG2000-036503

在线出版日期：2008-04-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：55-62