下一代测试系统化解闪存复杂性问题

摘要：

@@ 随着移动电话和掌上计算机等个人电子设备需求的驱动,闪存器件已经通过快速发展,迈上了更高的容量和性能水平.今天,半导体制造厂商发现,对更为先进的闪存产品的需求与日俱增,其交付方式或为独立的闪存器件,或者作为拥有逻辑电路的内核,嵌入单芯片器件中,或与微控器、逻辑或静态内存共同出现在芯片中.对闪存制造商来说,要想在这些高度竞争的市场中取得成功,就要求它们能够严格控制测试成本,尽管器件本身正日趋复杂.由于闪存在大小尺寸、速度和复杂性方面都在不断增加,制造商正在寻求更为成本有效的单次插入测试解决方案,并希望其能够解决目前正在浮现的测试挑战.随着新测试技术的出现,制造商可以运用成本经济的下一代测试平台有效解决日益严峻的闪存复杂性问题.

机标关键词：测试系统、闪存、制造商、芯片器件、运用成本、掌上计算机、复杂性问题、制造厂商、有效解决、移动电话、逻辑电路、静态内存、解决方案、高度竞争、电子设备、插入测试、测试平台、测试技术、测试成本、小尺寸

分类号：F4(工业经济)

在线出版日期：2008-04-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：70-75