改进测试效率,提高服务能力

摘要：

半导体工业的飞速发展,对集成电路测试提出了前所未有的要求,国内集成电路测试企业要想在竞争激烈的市场中成长和发展,除了需要得到更多的投入和支持外,也需要开展DFT、SCAN、BIST等先进技术,先进工具的应用与研究,努力追赶世界先进水平.现阶段,应该尽量挖掘现有设备的潜力,加强同行间的相互交流与合作,千方百计地提高测试效率.文章介绍了三种对提高测试效率,减少测试时间,降低测试成本行之有效的方法.

机标关键词：测试效率、集成电路测试企业、应用与研究、投入和支持、交流与合作、成长和发展、半导体工业、测试时间、测试成本、市场、设备、潜力、竞争、技术、国内、工具、方法

分类号：TN43(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2008-04-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：49-52