车载芯片的测试挑战--基于高性能混合信号测试系统的解决方案

摘要：

随着近年汽车电子化进程的快速发展,对于核心车载芯片的多功能、高性能、低成本、高安全性的要求就变得越来越强烈.本文就使用高级混合信号测试系统来实现车载芯片的低成本和高可靠性的测试进行说明.

机标关键词：车载、芯片、测试系统、高性能、混合信号、汽车电子化、高可靠性、高安全性、成本、多功能、进程

分类号：TN43(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2008-04-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：70-73