SoC芯片可测试性设计策略分析

摘要：

微电子器件已经广泛应用于航空航天等多个领域中,发挥着重要作用.随着芯片技术的升级,集成电路不断缩小尺寸,系统级芯片(SoC)已经得到广泛应用,且对于SoC芯片需求量逐渐增多.基于此,文章通过分析SoC芯片结构,进一步研究可测试性设计,以阐述测试性能控制方法,实现性能和效率的优化.在测试中利用芯片功能模块接口和外部端口存在的映射关系,通过锁存器和JTAG进行控制.通过可测试性设计能够缩短测试时间,降低测试成本,支持芯片质量和成本效益的提高.

关键词：SoC芯片、可测试性、测试性能

分类号：TN402(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2023-10-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：18-19,87