拇趾外翻X线片观测指标及应用进展

摘要：

X线测量是拇外翻畸形最重要的诊断和评价依据之一,选择正确的摄片方式和测量指标对拇外翻畸形的准确诊断和治疗方案的选择均有极其重要的意义.随着对拇外翻病因病理研究的深入,有关该病的X线测量方法和指标也日新月异.摄片的方法包括在负重与非负重状态下拍摄足的正位、侧位、斜位及籽骨轴位片.测量指标的选择也多种多样,包括角度测量、距离测量、籽骨位置的测量等,可作为术前畸形程度及术后疗效的评估.本文基于对国内外有关拇外翻X线测量的最新研究,对其测量方法及应用进行概述.

关键词：拇外翻、体层摄影扫描仪、X线计算机、综述文献

所属期刊栏目：26

分类号：R62;R68

在线出版日期：2013-04-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：171-174