蒙特卡罗方法调整探测器死层厚度和冷指尺寸的研究

摘要：

目的用蒙特卡罗(MC)方法计算效率和实测效率的比较,调整HPGe探测器死层厚度和冷指尺寸,提高MC方法计算HPGe探测器γ射线探测效率的准确度.方法在理论分析探测器死层厚度和冷指尺寸对γ射线探测效率影响的基础上,用137Cs刻度源在不同距离处实际测量HPGe探测器的效率,并将探测器死层厚度和冷指尺寸调节前、后计算效率与实测效率进行比较.结果探测器死层厚度和冷指尺寸调节前与调节后相比,理论计算与实测效率相对偏差的平均值由5.301%提高到3.937%.结论相对偏差的明显改善,不仅增强了MC软件的模拟计算功能,也提高了放射性测量结果的准确度.

关键词：蒙特卡罗方法、高纯锗探测器、死层厚度、冷指尺寸、调整

所属期刊栏目：12

分类号：R144.1(放射卫生)

资助基金：国防科技预研基金56.1.4

在线出版日期：2004-04-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：203-204