大口径KDP晶体折射率非均匀性检测

摘要：

KDP晶体的折射率不均匀性将导致光束的空间分布存在不同程度的相位失配,从而使得三倍频系统的转换效率下降.为了得到KDP晶体折射率非均匀性的高精度检测结果,基于正交偏振干涉法,采用ZYGO MST大口径干涉仪,测量得到了大口径KDP晶体折射率非均匀性分布,其测量精度达到10-7,并通过实验研究了晶体面形对测量结果的影响.对晶体e光折射率非均匀性的高精度检测,为大口径晶体材料生长工艺、加工工艺等改进和提高提供了定量的检测依据.

关键词：KDP、折射率非均匀性、晶体面形

所属期刊栏目：34

分类号：TN29;TH706(光电子技术、激光技术)

在线出版日期：2013-07-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：300-303