光学元件高反射比、高透射比测试技术研究

摘要：

为了实现光学元件、光学薄膜等高反射比、高透射比的测量,以单次反射测量法为基础,并结合激光稳功率技术、双光路测量技术以及精密探测技术,建立了一套精密测试系统,实现对光学元件632.8 nm和1 064 nm两个波长下高反射比与高透射比的测量.实验和测量不确定度分析验证测试系统在632.8 nm波长下高反射比与高透射比的测量不确定度优于0.008％,在1 064 nm波长下高反射比与高透射比的测量不确定度优于0.015％.

关键词：高反射比、高透射比、陷阱探测器、积分球探测器

所属期刊栏目：32

分类号：O433.5;TN247(光学)

在线出版日期：2012-03-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1184-1188