10.3969/j.issn.1002-2082.2009.03.026
微光像增强管离子阻挡膜质量测试技术研究
鉴于通常制作的离子阻挡膜存在通孔,在阴极低电压下,经MCP电子倍增在荧光屏上显示为亮孔,为测试出规则与不规则亮孔的大小和数量,提出了一种像管的离子阻挡膜质量测试方法.该方法是在规定电压和光阴极照度的条件下,使像管光阴极接收约2 lx的光照射,给像管各极施加电压使像管荧光屏上离子阻挡膜亮孔清晰可见,用10倍显微镜或相机拍照,观察荧光屏所成的离子阻挡膜通孔图像.试验结果表明:在相同的测试条件下,离子阻挡膜的制作工艺不同,离子阻挡膜质量亦不同.
微光像管、微通道板、离子阻挡膜、膜质量测试
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TN15-34(真空电子技术)
2009-06-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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