基于Ansys的光学器件热变形仿真与分析

摘要：

由于环境温度的作用,光学器件在应用环境中的热变形对光学仪器的整体性能产生重要影响,利用有限元分析系统对光学器件进行热变形分析,为器件设计提供科学依据和有效支持.提出基于Ansys的热变形仿真分析方法.该方法包括问题分析、Ansys热变形仿真和数据分析3个步骤,并对每一步内容作了详细阐述和说明.以某光学仪器的关键器件为分析对象,用该方法进行了热变形仿真,应用Matlab软件进行结果数据分析,得到了器件反射镜面在40℃和-10℃环境温度影响下产生的平行差分别为7.624 12"和8.563 17".所得结果与实验结果基本一致,证实了该方法的有效性.

关键词：Ansys、热变形、仿真与分析、光学器件

所属期刊栏目：29

分类号：TN15(真空电子技术)

在线出版日期：2008-12-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：697-700