10.3969/j.issn.1002-2082.2005.01.013
真空沉积法制备InSb纳米颗粒
采用真空沉积的方法在SiO2基片上制备出了纳米InSb颗粒薄膜.利用原子力显微镜对4片样品表面进行分析,从其表面形貌图和三维图中可以观察到有粒径均匀的纳米InSb颗粒形成并且均匀地分布在SiO2基片表面.实验表明,通过改变镀膜时间可以得到具有不同颗粒尺寸的InSb纳米颗粒,并且颗粒直径与沉积时间和厚度成正比.
纳米InSb颗粒、真空蒸发沉积、原子力显微镜
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TN305.93(半导体技术)
2005-03-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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