右删失数据下分位数回归的光滑经验似然检验

摘要：

关于线性分位数回归模型的参数检验问题,对完全观测数据,已有文献用经验似然(EL)法和光滑经验似然(SEL)法构造的检验统计量在原假设下均以卡方分布x2M为渐近分布.对右删失数据,已有文献用EL法构造的检验统计量以加权卡方分布为渐近分布,而权重是待估的.对右删失数据,本文用EL法和SEL法构造的检验统计量在原假设下均依分布收敛到x2M,因此无需估计权重.由于SEL法的估计函数是光滑的,故可以进行Bartlett纠偏.随机模拟结果表明与已有的方法相比,SEL法经过Bartlett纠偏后有更高的精度.

关键词：分位数回归、右删失、光滑经验似然

所属期刊栏目：35

分类号：O212.1(概率论与数理统计)

资助基金：国家自然科学基金项目11671274、11231010

在线出版日期：2019-08-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共12页

页码：153-164