辅助光学系统的KB显微镜瞄准方法分析

摘要：

本文针对辅助光学系统下的KB显微镜瞄准方法进行分析和论证.X射线Kirkpatrick - Baez型显微镜(以下简称KB显微镜)是一种高性能的诊断设备,目前其主要的应用就是进行激光惯性约束聚变实验.在目前的科技中,KB显微镜和X射线相机比较来说,其激光立体角相关指标以及空间的分辨率上都具有大幅度的提高.而KB显微镜由于自身原理的原因,对于掠入角的变化非常的敏感,对于物像位置种种要求也相对高出很多,所以如何进行瞄准是目前KB显微镜急于解决的问题.尽管目前国外发达国家已经采用了多种方法进行精确瞄准,但都存在一些弊端.本文采用了辅助光学系统来精确KB显微镜的瞄准,并且通过理论和实验进行了充分的验证.

关键词：光学系统、Kirkpatrick-Baez、型显微镜、瞄准方法

分类号：TH742(仪器、仪表)

在线出版日期：2012-07-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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