一种基于Q PS O-RVM的模拟电路故障预测方法

摘要：

提出了一种可应用于模拟电路故障预测的方法。通过提取被测电路的频域响应信号，计算皮尔逊相关系数，从而表征电路元件的健康度；在获取元件在不同时间点的健康度数据的基础上，推导出电路元件发生故障时的健康度阈值；将经量子粒子群算法优化的相关向量机算法用于故障预测，预测各个时间点的元件健康度变化轨迹并估计模拟电路的剩余有用寿命。该预测方法计算简单、通用性强，适用于实时预测。故障预测仿真实验与实例实验证明了方法的有效性与先进性。

关键词：模拟电路、剩余有用寿命、健康度、皮尔逊相关系数、相关向量机、量子粒子群

分类号：TM206;TH16(电工材料)

资助基金：国家自然科学青年基金61102035;国家杰出青年科学基金50925727;国防科技计划C1120110004、9140A27020211DZ5102;教育部科学技术研究重大项目313018;中央高校基本科研业务费专项资金2012HGCX0003;安徽省科技计划重点项目1301022036

在线出版日期：2014-09-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：1751-1757