期刊专题

10.3321/j.issn:0254-3087.2009.05.038

锥光全息系统测量的误差因素分析及提高测量分辨力的方法

引用
用锥光全息非接触式测量系统进行距离测量的精度会受到系统自身的原理结构和光学元件布局的影响,重点分析光路中的核心元件偏光晶体等器件自身的固有属性和相对位置对测量结果的影响,并讨论了相应的调整和补偿措施.在理论和实验结合下,确定各个仿真参数,通过仿真的变化曲线深入分析了引起相位误差和设定的绝对相位零点偏移的原因,并讨论了提高测量系统精度的相位差放大方法,对优化设计和调试锥光全息测试系统及提高测量系统精度具有重要意义.

锥光全息、非接触测量、相位差、偏光晶体

30

TN247(光电子技术、激光技术)

2009-06-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

1100-1104

暂无封面信息
查看本期封面目录

仪器仪表学报

0254-3087

11-2179/TH

30

2009,30(5)

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn