大规模MCM基板互连探针测试和路径优化

摘要：

已有的路径优化算法在MCM基板互连测试中已经发挥了一定的作用,但由于MCM的高密互连特性,使得测试变得更加复杂和困难,因此人们希望能引入新的方法与思路,以解决MCM基板互连测试的路径优化问题.将蚁群算法应用到互连测试探针路径优化问题当中,根据MCM基板互连测试的特点,建立探针路径优化的模型.提出一种针对大规模MCM基板互连探针测试的方法,首先将MCM基板进行分片,然后对每片进行优化,最后将优化结果连接在一起,成为一条完整的路径.实验结果表明,蚁群算法能在较短的时间内得到更优的路径.

关键词：MCM基板、互连测试、探针测试、蚁群算法

所属期刊栏目：27

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：中国科学院资助项目60266001

在线出版日期：2006-03-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：9-13