基于确定性测试集的数字集成电路随机测试

摘要：

提出了一种基于确定性测试集的数字集成电路随机测试生成方法.通过确定性测试集的分类及随机化,该方法能生成高性能的随机测试多权集.和平凡随机测试及采用单权集下的随机测试相比,采用文中的方法在压缩测试长度的同时还可获得较高的故障覆盖率.对标准电路的实验验证了该加权集生成算法的有效性,此方法对组合电路和时序电路以及对大规模集成电路的内测试和外测试皆试用.

关键词：加权随机测试、自动测试生成器(ATPG)、多权集、数字集成电路故障诊断

所属期刊栏目：23

分类号：TP2(自动化技术及设备)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：576-578