数字电路多故障测试生成的神经网络方法研究

摘要：

本文深入研究基于Hopfield神经网络的数字电路多故障测试生成方法,该方法利用电路基本逻辑门和Hopfield网络的特性,建立多故障测试生成的神经网络模型,通过求解网络能量函数的最小值点获得给定多故障的测试矢量.文中提出了加速测试生成的技术策略,为多故障的测试提供了一种可能的新途径.

关键词：数字电路、多故障、测试生成、神经网络

所属期刊栏目：20

分类号：TH7(仪器、仪表)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：232-234