X射线荧光光谱分析技术在大理岩鉴定与分类中的应用

摘要：

大理岩的鉴定与分类主要依靠岩石薄片鉴定及X射线衍射(XRD)矿物半定量检测技术.工作中发现,岩石薄片鉴定技术及XRD矿物半定量检测技术所测得矿物组分含量很少一致,这就需要引入其他技术对岩石薄片鉴定及XRD矿物半定量检测结果加以验证.本文利用X射线荧光光谱仪(XRF)对野外采集的32件大理岩样品进行全岩化学成分分析,以岩石化学成分为基础,分析岩石杂质系数、镁质系数和钙质系数特征,对大理岩进行分类.结果表明:方解石大理岩、白云石大理岩、菱镁矿大理岩的镁质系数值分别为0.01~0.13、0.40~0.46、0.97~0.98,钙质系数值分别为0.78~0.84、0.30~0.49和0.01 ~0.02,不同类型大理岩的钙质系数和镁质系数明显不同,可以作为划分大理岩类型的主要依据.当岩石中SiO2+Al2O3含量大于35%(杂质系数大于为1.20),不能定为大理岩,只有岩石中 SiO2+Al2O3含量小于30%(杂质系数小于1.00)时,可定为大理岩.杂质系数、镁质系数和钙质系数的应用,能够校正岩石薄片鉴定法及XRD矿物半定量法矿物含量检测不一致的问题,使大理岩分类定名更加准确.

关键词：大理岩、X射线荧光光谱法、矿物鉴定、杂质系数、镁质系数、钙质系数

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分类号：O657.31;P588.313(分析化学)

资助基金：国土资源部变质岩岩石矿物鉴定检测技术方法研究课题201011029-3

在线出版日期：2018-03-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：43-49