基于拉曼光谱-红外光谱-X射线衍射技术研究斜硅石的相对含量与石英质玉石结晶度的关系

摘要：

石英质玉石的成分除α-石英外,还或多或少含有一种低温低压的SiO2矿物"斜硅石",关于斜硅石的相对含量与石英质玉石结晶程度的关系还未见有研究.本文选取中国云南龙陵、安徽霍山、广西贺州和内蒙古阿拉善盟地区所产出的不同类型的石英质玉石为研究对象,采用拉曼光谱、红外光谱、X射线衍射分析技术,确定了斜硅石的相对含量与石英质玉石结晶程度之间的关系.结果表明,石英质玉石中斜硅石的相对含量越高,石英质玉石的结晶程度越低;其中拉曼光谱中能够描述斜硅石相对含量变化的502 cm-1/465 cm-1两峰强度比值(X)与石英质玉石的结晶度指数(Y)基本上呈负相关关系:Y=-0.36X +6.93(r=-0.94).此结论为利用无损检测手段大致判断石英质玉石的结晶程度提供了新的思路,同时也为定性评价石英质玉石的品级提供了科学依据和理论约束.

关键词：石英质玉石结晶度、斜硅石相对含量、拉曼光谱法、红外光谱法、X射线衍射法

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分类号：P619.281;P575.4;P575.5(矿床学)

资助基金：国土资源部公益性行业科研专项项目201011005-2B

在线出版日期：2016-02-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：652-658