期刊专题

10.3969/j.issn.0254-5357.2010.01.017

X射线荧光光谱法同时测定地质样品中铌钽锆铪铈镓钪铀等稀有元素

引用
采用粉末压片法制样,选用标准样品,以经验α系数和散射线内标法校正基体效应和元素谱线重叠干扰,使用ZSX Primus Ⅱ X射线荧光光谱仪对一般地质样品中的铌、钽、锆、铪、铈、镓、钪、铀等稀有元素进行测定,分析结果与标准值和参考值吻合,12次测定的相对标准偏差(RSD)小于10%.

X射线荧光光谱法、稀有元素、粉末压片、地质样品

29

O657.34(分析化学)

2010-04-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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岩矿测试

0254-5357

11-2131/TD

29

2010,29(1)

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