电感耦合等离子体发射光谱法测定工业硅中微量元素

摘要：

采用电感耦合等离子体发射光谱法同时测定工业硅中可能存在的铝、铁、钙、镁、钾、钠、磷、钡、铍、镉、铈、钴、铬、铜、锂、锰、钼、镍、铅、钛、钒、钨、锌、砷、锶、铼、锑、硼28个微量元素,并以差减法计算基体硅的含量,实现了对试样基体及杂质元素含量的同时测定.方法对28个微量元素的回收率为94.0%～103.4%,精密度(RSD,n=10)低于3.0%.方法经国家实物标准物质验证,测定值与标准值基本相符.

关键词：多元光谱拟合、电感耦合等离子体发射光谱法、微量元素、工业硅

所属期刊栏目：28

分类号：O657.31(分析化学)

在线出版日期：2009-04-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：72-74